Istituto Italiano di Tecnologia

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1 Istituto Italiano di Tecnologia Gara a procedura aperta ai sensi dell art. 60 del D.Lgs. 50/2016 e s.m.i. per l acquisto di un sistema per spettrometria di massa con sorgente al plasma accoppiato induttivamente unitamente ad un sistema per spettrometria ad emissione ottica con sorgente al plasma accoppiato induttivamente. CIG

2 Informazioni sulla gara Tipologia di gara: Criterio di aggiudicazione: Aperte Economicamente più vantaggiosa CPV: Protocollo: 3173 CIG: Tipo di fornitura: Beni Atto di riferimento: Determina dirigenziale prot. n. 3173/18 RUP: Per richiedere informazioni: Stato: Soggetto aggiudicatore: Centro di costo: Destinatario fornitura/servizio: Aggiudicatario: Roberto Cingolani Eventuali chiarimenti sulla procedura possono essere richiesti per iscritto, effettuando il login alla piattaforma ed utilizzando esclusivamente l area messaggistica denominata quesiti Aggiudicata Istituto Italiano di Tecnologia Ufficio Gare Servizio di sistema THERMOFISHER SCIENTIFIC S.P.A. Importo aggiudicazione: ,00 AVVISO DI RETTIFICA Gara a procedura aperta ai sensi dell art. 60 del D.Lgs. 50/2016 e s.m.i. per l acquisto di un sistema per spettrometria di massa con sorgente al plasma accoppiato induttivamente unitamente ad un sistema per spettrometria ad emissione ottica con sorgente al plasma accoppiato induttivamente. CIG Con riferimento alla procedura in epigrafe, si comunica che, in data 18/04/2018, l articolo 4.A. Busta Offerta Tecnica Criteri di valutazione di natura quantitativa (Q) e tabellare (T), punto 16 del Capitolato Speciale Descrittivo e Prestazionale viene rettificato come segue. Ove indicato: [ ]ICP-OES: eliminazione della parte terminale del plasma. Eliminazione della parte terminale del plasma senza l ausilio di aria/gas (sheargas/interfaccia controflussata) [ ] Comunicazione: deve intendersi annullato e sostituito integralmente come segue: [ ]ICP-OES: eliminazione della parte terminale del plasma. Eliminazione della parte terminale del plasma mediante una soluzione tecnica che non coinvolga l ausilio di aria o di gas di purezza inferiore a quella del gas carrier. [ ]

3 Si prega di prendere visione della nuova versione del Capitolato Speciale Descrittivo e Prestazionale, del Disciplinare di Gara e del Facsimile offerta tecnica debitamente rettificati nelle parti relative al punto sopra richiamato e pubblicati sulla Piattaforma Digitale Gare Telematiche di IIT. Restano fermi e invariati i termini di cui all articolo 13 Modalità di presentazione dell offerta e sottoscrizione dei documenti di gara del Disciplinare di gara. Il Responsabile del Procedimento Prof. Roberto Cingolani Importi e oneri Importo complessivo a base d'asta: ,00 Importo, al netto di oneri di sicurezza da interferenze e iva, soggetto a ribasso: Oneri Sicurezza da interferenze (Iva esclusa): 0, ,00 Garanzia fideiussoria: 4.900,00 Formula per calcolo del punteggio dell'offerta economica Criterio di valutazione dell'offerta economica 1.2 Proporzionalità inversa sul ribasso Punteggio massimo da attribuire all'offerta economica 10 Date pubblicazione e scadenza Data pubblicazione: 22 marzo :30 Termine ultimo per la presentazione di quesiti: 27 aprile :00 Data scadenza: 03 maggio :00 DGUE Documenti richiesti ai partecipanti - Documentazione amministrativa Dichiarazioni integrative Documento di Identità Contributo ANAC Cauzione - Fidejussione Eventuali documenti integrativi PASSOE Dichiarazione conformità all'originale

4 Offerta economica Documenti richiesti ai partecipanti - Offerta economica Eventuali documenti integrativi Bando di gara Documentazione gara Disciplinare di Gara_rettificato DUVRI Progetto rettificato

5 Criteri punteggio documentazione tecnica Nome criterio/sub-criterio Punteggio massimo attribuibile 01 -ICP-MS: Sistema di introduzione del campione con camera di nebulizzazione 01 - ICP-MS: Sistema di introduzione del campione con camera di nebulizzazione Totale criterio 02 - ICP-MS: Sistema di introduzione del campione con 2istema di diluizione automatica del campione 02 - ICP-MS: Sistema di introduzione del campione con 2istema di diluizione automatica del campione ICP-MS: Sistema da vuoto 03 - ICP-MS: Sistema da vuoto ICP-MS: Ottica ionica 04 - ICP-MS: Ottica ionica Totale criterio 05 - ICP-MS: Intervallo di sensibilità Limite inferiore dell intervallo di sensibilità <5 amu Limite superiore dell intervallo di sensibilità >240 amu Totale criterio 06 - ICP-MS: Velocità di scansione delle masse 06 - ICP-MS: Velocità di scansione delle masse Totale criterio 07 - ICP-MS: Stabilità delle masse 07 - ICP-MS: Stabilità delle masse ICP-MS: Sistema di analisi di massa Presenza di un ulteriore elemento (detto quadrupolo di selezione) separato e distinto dalla cella di collisione/reazione e dal quadrupolo analizzatore Risoluzione del suddetto quadrupolo di selezione uguale a quella del quadrupolo analizzatore, ossia pari a 1 amu Possibilità di lavorare in diverse modalità, se necessario anche all interno dello stesso batch di analisi senza richiedere una seconda introduzione dello stesso campione Livello di vuoto raggiungibile nella regione del quadrupolo di selezione dello stesso ordine di

6 grandezza di quello ottenibile nella regione del quadrupolo analizzatore e del detector Totale criterio ICP-MS: Abundance sensitivity 09 - ICP-MS: Abundance sensitivity ICP-MS: Ossidi 10 - ICP-MS: Ossidi ICP-MS: Doppie cariche 11- ICP-MS: Doppie cariche ICP-MS: Rumore di fondo 12 - ICP-MS: Rumore di fondo Totale criterio 13 - ICP-MS: Dwell time 13 - ICP-MS: Dwell time ICP-MS: range dinamico 14 - ICP-MS: range dinamico ICP-MS: Limiti di rilevabilità Limite di rilevabilità per 9Be < 0.6 ppt Limite di rilevabilità per 115In < 0.3 ppt Limite di rilevabilita per 238U < 0.3 ppt 16 - ICP-OES: eliminazione della parte terminale del plasma 16 - ICP-OES: eliminazione della parte terminale del plasma Totale criterio 17 - ICP-OES: introduzione del campione 17 - ICP-OES: introduzione del campione ICP-OES: range dinamico 18 - ICP-OES: range dinamico ICP-OES: Risoluzione (R) a 200 nm

7 19 - ICP-OES: Risoluzione (R) a 200 nm ICP-OES: velocità di analisi 20 - ICP-OES: velocità di analisi ICP-OES: Limiti di rilevabilità Limite di rilevabilità per S ( = 180,731 nm) < Limite di rilevabilità per Fe ( = 259,940 nm) < Limite di rilevabilità per Na ( = 589,592 nm) < Limite di rilevabilità per Li ( = 670,784 nm) < 22 - Training in favore di operatori di IIT 22 - Training in favore di operatori di IIT Totale criterio 23- Garanzia, assistenza e manutenzione 23 - Garanzia, assistenza e manutenzione Pacchetto assistenza 24 - Pacchetto assistenza 4.00 Totale Offerta tecnica Documenti richiesti ai partecipanti - Offerta tecnica Eventuali documenti integrativi