LOTTO 10 Micro4taman con integrazione SPN IJSNOM

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1 CcmpeftvttÒ / / /// / )/,,4/,/* /4..//Ì./4.. //yy LOTTO 10 Micro4taman con integrazione SPN IJSNOM JJflpQQdiuara: 35L240,00= IVA esclusa Condizioni djgara: la gara sarà aggiudicata con il criterio dell offerta economicamente più vantaggiosa. Valutazione economica (max, 30 punti) e tecnica (max. 70 punti) Il sistema deve essere in wado di operare sia in maniera congiunta (modalità accoppiata AFM Raman) che in maniera disgiunta per ottenere informazioni nanoscopiche e spettroscopiche del.la superticie di campioni solidi in diversi ambienti (aria, liquido)ed a diverse temperatu.re (riscaldamento ed eventualmente raffreddamento rispetto alla temperatura ambiente). Il sistema deve poter prevedere, anche tramite opportuna realizzazione di sonde, misure A.FM Raman, TERS e SNOM su campioni opachi e trasparenti. Saranno privilegiati sistemi nei quali l indipendenza delle modalità spettroscopiche e nanoscopiche è particolarmente evidente. Caratteristiche minime del sistema I )Unità per la realizzazione di microscopia a. scansione di sonda (SPM) 2)Unità per la realizzazi.one di spettroscopia micror.aman ad alta risoluzione ed alta sensibilità con eccitazione su più lunghezze d onda 3)Sisterna accoppiato allo spettron.etro Raman per misure in ftmzion.e della temperatura 4)Accoppiamento tra sistema Raman e SPM per la realizzazi.one di misure inteate.afm. Raman, SNOM e TERS, 5)Sistema per misure Raman remote nel visibile e NIR per distanze superiori a 3 metri

2 ,,,.. Specifiche dei componenti richiesti Unità per la realizzazione di microscopia SPM aìrange di scansione: non intj,riore a 90x90x 15 micron(x-y-zì b)aceumtezza:<ftl nm in X-Y; <0.1 nm in Z e)linearità: migliore di O.05 4 sull intero range di scansione con frequenze di scansionealmeno nel rangeo. I I I-{erz o inferiori d)portaeampioni: per alloggiamento di campioni X-Y-Z almeno fino a 30x30x1 5 mm. e)sistema di microscopia ottica adeguato per la realizzazione di misure AFM-Ran,an, SNOM e TERS f)modi operativi: I Modalità in contatto 2.Modalitàtapping o intennittedeontaet 3.Modalità forza laterale 4.Acquisizione di curve forza-distanza 5.Modalitainterlieve o lifi mode 6.ModalitàConducti ve AFM 7ivlodalitàMagnetic Force 8.,iodalitàEIcetric Force 9.Modalità Contrasto di Fase I O,Modalitàralative a misure di contrasto di proprietà meccaniche Il.Moclalità di non contact mode in regime dinamico con modulazione del Q-tctor Unità per la realizzazione di spettroscopia micro-raman a)spettrografo Imaging ad alta qualità: i.lunghezza focale non intèriore a 300 mm

3 a. iiòqtvcc :.. [r,4. - ). i. t.tx,,j..., 9. /.,,..::, ii.possibilità di alloggiare almeno due reticoli + fornitura di reticoli 600 lineefmm, 500 nm e 1800 linee/mm, ologratico corretto per aberrazioni cromatiche b)caratteristiche minime rivelatore: raffreddato peltier. range nm. c)range spettrale: 20 cm cmt con eccitazione nel verde d)possibilità di effettuare misure in polarizzazione VV e VII e)risoluzione spaziale puntuale e in modalità imaging (durante la scansione): al limite della diffrazione ottica fltre sistemi laser per eccitazione. Verde (532 nm o similari), rosso (633 o similari). >700 nm g)possibilità di aggiungere almeno una quarta linea laser di eccitazione nel range 400nm h)risoluzione massima raggiungibile: <.: i cm sull intero range spettrale i)microscopio ottico di grado scientilico.set di obiettivi in dotazione: lox, 20N. 50x. I(10x, 50x a lunga distanza di lavoro. Videocamera a colori per la visualizzazione del campione. Movimentazione Z della torretta niotorizzata con corsa da almeno 30 mm e step da 100 nnì. illuminazione: tramite LED a luce bianca Movimento tavolinetto porta camplom: motorizzato in x e y con corsa da almeno 100 mm e risoluzione i micron j)modalità di misura: I.Acquisizione di spettri completi Ramanad ogni pixel 2.Miero-Raman: acquisizione di spettri Rarnan su aree selezionate 3.Ranian imaging confocale 3D Sistema accoppiato per misure in funzione della temperatura Sistema accoppiato allo spettrometro Ramane rirnovibìle per misure in temperatura con range 100 K 800 K completo di camera da vuoto e sistema di pompaggio (stabilità non superiore a 0. I C, alloggiamento campione almeno 20 mm di diametro. movimeniazione interna manuale) Accoppiamento tra sistema Raman e SPM per la realizzazione dl misure Intergate AFM Raman, SNOM e TERS. 3

4 L accoppiamento dovrà prevedere: i Misure AFM e ImagingRaman contocale in contemporanea con lìlumlnazlone e raccolta dall alto eo con angolo di incidenza laterale per ottimizzazione TERS 2,Misure AFM e IrnagingRanian confocale in contemporanea con ìlluminaz.ione e raccolta dal hasso 3,Misure AFM e ImagingRaman confocale in contemporanea con illuminazione dall alto c raccolta dai basso, e viceversa Ulteriori accessori inclusi nella fornitura a)sct da 10 sonde AFM per modalità in contatto h)set da IO sonde AFM per modalità tapping c)set da lo sonde SNOM. d)tavola antrivibrazioni di tìpo attivo c}cornputer allo stato dellarte con due inonitor LCD le cui caratteristiche minime sono: 4x2,8 GHz Qurd core, 4GB RAM, 2 TB HD, DVD RW Frarne grabber per s idcocamere \lonitor 19 LCD PC e rnonitor dovranno essere compatibili co.n il software che gestisce l apparecchiatura nel suo complesso cd in urado di esegutre l acquisizione dati e la loro elaborazonc onhinc ed ot fline. f)set di filtri inte ati e motonzzati per misure di fluorescenza )Gruppo di continuità allo stato dell arte: dovrà esse ìn grado di assicurare la L csnonc dell apparecchiatura per un periodo non nfenore alle sei ore continuative in assenza di t:ensione di rete, Tempi di consegna Consegna cd istailazione entro 4 mesi dalla data di stipula del contratto, Elementi di valutazione Elemento di valutazione Criterio Punteggio massimo 4

5 i.1,: CGfC3 4 CompepMv.tÒ Ist, l i Efficienza def&ior 55b >40% a 532 nrn,4 4<,_ /L,...4. Velocità di scansione in modalità Acquisizione di spettri completi 8 punti Raman Rwnan ad ogni pixel con possibilità i di imaging ultrafast Efficienza dello Spettrogratb >60% a 532 nm i 8 punti spe&ale Possibiltà di effettuare misure con 8 punti eccitazioni nel visibile e nel vicino I infrarosso. Predisposizione per misure UV (detector cd ottiche) I Allineamento sonde-laser di Possibilità di movimentare gli 8 punti eccitazione obiettivi di illuminazione, di raccolta t e la sonda AFM SNOM indipendentemente fra loro, in maniera inotorizzata e controllata via software. I Analisi 3D Possibilità di eseguire mappe Jspunti chimiche (Raman, Fluorescenti) 3D. Misure in funzione della 1iiilità di eseguire misure in luce 4 punti polarizzazione polarizzata con analizzatore ruotabi le Misure remote Adattatore e tibre per misure remote 3 punti ndcantile er AFM e SNOM Facilità e velocità delle operazioni di 3 punti montaggio ed ottimizzazione del segnale Misure su aree estese (Raman) Possibilità di espandere il sistema per 8 punti misure di mapping su aree >2x2 cm con inseguin1ento del ftxoco i automatico anche su superfici inclinate diversi mm Assistenza tecnica Esistenza di un centro di assistenza [5 punti in Italia con personale tecnico qualificato

6 .,... Strumentazione analoga installata Esistenza di strurnentazione analoga 5 punti installata mntegzante le tre tecniche principali (AF M, Rarnan, SNON4). Eornire elenco e referenze e,